產(chǎn)品展示

PRODUCT DISPLAY

產(chǎn)品展示您現(xiàn)在的位置: 首頁 > 產(chǎn)品展示 > 日本京都 > 其他熱分析儀器 >反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)

反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)

產(chǎn)品時間：2025-05-14

訪問次數(shù)：939

簡要描述：

日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT
主要特點
集成測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)
光譜范圍廣，可選擇多種光源
反射率和透射率同時測量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系數(shù)
標準維護時間記錄的相機測量位置
放個樣品就行了。無需調(diào)整光學系統(tǒng)，設置非常簡單

在線咨詢點擊收藏

詳細介紹

日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT

F10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)。可同時測量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數(shù)。
只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接，無需調(diào)整光學系統(tǒng)，無需復雜的設置，而且設置非常簡單。

主要特點

集成測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)
光譜范圍廣，可選擇多種光源
反射率和透射率同時測量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系數(shù)
標準維護時間記錄的相機測量位置
放個樣品就行了。無需調(diào)整光學系統(tǒng)，設置非常簡單

主要應用

平板光學鍍膜薄膜太陽能電池

聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射涂層、PET和玻璃基板上的各種光學膜

玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質(zhì)涂層。

CdTe、CIGS、非晶硅等

產(chǎn)品陣容

模型

F10-RT

-紫外線

F10-RT

-近紅外

F10-RT

　-近紅外

F10-RT

　-UVX

測量波長

范圍

膜厚測量

范圍

性

光源


190 – 1100nm	380 – 1050nm	950 – 1700nm	380 – 1050nm	380 – 1050nm
1nm – 40μm	15nm – 70μm	100nm – 150μm	15nm – 150μm	1nm – 150μm
± 0.2% 薄膜厚度		± 0.4% 薄膜厚度	± 0.2% 薄膜厚度
1納米	2納米	3納米	2納米	1納米
氘· 鹵素	鹵素			氘· 鹵素

測量示例

平板中使用的透明電極ITO的膜厚和折射率的測定例
同時測定反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 軟件可即時分析薄膜厚度、折射率等。

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細地址：
補充說明：
驗證碼：

請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯數(shù)字），如：三加四=7

上一篇：SHOWA 7135日本進口昭和測器平衡器
下一篇：IS-300快速測量食品中微量氧分析儀

簡要描述：

主要特點

主要應用

產(chǎn)品陣容

測量示例

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：

電話